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X射线光电子能谱(XPS)分析

结合新一代光电子检测仪,光谱仪我们结合最高分辨率光谱仪在所有分析领域定量,实时并行成像。

XPS surface analysis facility
我们奎托斯轴超DLD XPS系统

XPS是最广泛使用的表面分析技术,提供有关表面层或薄膜结构的信息。

因为在使用和解释数据它相对简单,信息XPS在许多工业应用中,包括提供值:

  • 聚合物表面改性
  • 催化
  • 陶瓷,腐蚀,粘附
  • 半导体材料
  • 包装,磁介质,薄膜涂层
  • 医疗植入物,生物材料,牙齿和骨骼。

技术特点

该系统集成了具有双分析仪(球面镜和同心半球分析仪)的奎磁浸没透镜和电荷中和系统。在成像和光谱模式延迟线检测器(DLD)一起,该系统提供优异的结果。功能包括:

  • 高能量分辨率
  • 多点谱
  • 快速并行成像
  • 离子散射能谱(ISS)
  • 深度剖析
  • 样品处理细胞
  • 低能量电子衍射(LEED)
  • 金属蒸镀源
  • quartz microbalance & temperature programmed desorption (TPD).

它是如何帮助

我们采用XPS考察工业上广泛使用的高分子薄膜的意外变色。使用该聚合物涂层与膜前驱体材料的分析一起XPS,我们发现了一批前体中混有一种卤素,其以低浓度给予了蓝色色调的材料,而不影响性能。

我们进行了接触,来分析在林业应用中使用的PCB轨道间歇接触。在制造的各个阶段进行比较的PCB,具有选择那些在该领域中使用的一起,我们能够经由含硅产物在主要接触点建立XPS来确定。通过改变材料中的生产中使用的溶剂,这个问题很快减轻。