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          X射线光电子能谱(XPS)分析

          结合新一代光电子检测仪,光谱仪我们结合最高分辨率光谱仪在所有分析领域定量,实时并行成像。

          XPS surface analysis facility
          我们奎托斯轴线的超DLD XPS系统

          XPS是最广泛使用的表面分析技术,提供有关表面层或薄膜结构的信息。

          因为在使用和解释数据它相对简单,信息XPS在许多工业应用中,包括提供值:

          • 聚合物表面改性
          • 催化
          • 陶瓷,腐蚀,粘附
          • 半导体材料
          • 包装,磁介质,薄膜涂层
          • 医疗植入物,生物材料,牙齿和骨骼。

          技术特点

          该系统集成了具有双分析仪(球面镜和同心半球分析仪)的奎磁浸没透镜和电荷中和系统。在成像和光谱模式延迟线检测器(DLD)一起,该系统提供优异的结果。功能包括:

          • 高能量分辨率
          • 多点谱
          • 快速并行成像
          • 离子散射能谱(ISS)
          • 深度剖析
          • 样品处理细胞
          • 低能量电子衍射(LEED)
          • 金属蒸镀源
          • quartz microbalance & temperature programmed desorption (TPD).

          它是如何帮助

          我们采用XPS考察工业上广泛使用的高分子薄膜的意外变色。使用在与膜前驱体材料的分析一起的聚合物涂层XPS,我们发现了一批前体中混有一种卤素,其以低浓度给予了蓝色色调的材料,而不影响性能。

          我们进行了接触,来分析在林业应用中使用的PCB轨道间歇接触。在制造的各个阶段进行比较的PCB,具有选择那些在该领域中使用的一起,我们能够通过XPS该含硅产物在主要接触点建立来确定。通过改变材料中的生产中使用的溶剂,这个问题很快减轻。

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